小型恒溫恒濕試驗箱，微型可程式高低溫箱簡介：

  小型恒溫恒濕試驗箱是模擬GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件、GB/T10589-2008低溫試驗箱等技術(shù)條件；GB/T11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件制造，主要為航天、hang空、石油、化工、軍事、汽車（摩托車）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫濕度變化環(huán)境條件下加載模擬振動的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等。

小型恒溫恒濕試驗箱，微型可程式高低溫箱主要技術(shù)參數(shù)：

工作室尺寸：300×300×335mm   (深×寬×高)
試品尺寸：小于250*250*300
外形尺寸：460×810×885   (深×寬×高)
溫度范圍：-120/-75/-40℃～+150℃
溫度波動度：≤±0.5℃ 
溫度均勻度： ≤±2℃
溫度偏差： ≤±2℃                  
升溫速率： -120℃到+150℃≤60min
降溫速率： 25℃到-120℃，≤120min
濕度范圍： 20%到98%
濕度偏差 ：≤±3%RH (>75%RH) ；≤±5%RH (≤75%RH)
濕度波動度： ≤±2%RH
微型可程式高低溫箱滿足標準： 

GB10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件；
GB10592-2008高、低溫試驗箱技術(shù)條件； 
GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；
GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；
GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Cab： 恒定濕熱試驗方法；
GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗Db： 交變濕熱；
GJB150.3高溫試驗；
GJB150.4低溫試驗；
GJB150.9濕熱試驗；